三坐標測量機

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光學測量系統

ZEISS O-INSPECT 322

　

o-inspect 332 O-INSPECT復合式測量機集光學式與接觸式測量技術于一身，因此可用于眾多部件的測量和分析。無需增加專用設備，O-INSPECT一機即可勝任。

配置

. Discovery遠心變焦鏡頭
. 自適應照明系統
. VAST XXT掃描探頭
. 測針架
. 標準球

選項

含玻璃托盤和網格托盤的上料系統
校準托盤

軟件

CALYPSO

測量范圍(in mm)

	X	Y	Z
3/2/2	300	200	200

長度測量誤差E0

可配置的探頭

可選用的軟件

蔡司測量解決方案

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